电子元件硫污染腐蚀机制剖析及多元防护策略研究

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摘要 摘要:随着电子产业的迅猛发展,电子元件的可靠性面临诸多挑战,其中硫污染腐蚀问题愈发突出。本文深入探究电子元件硫污染腐蚀的内在机制,从化学、物理等多层面解析其发生过程,在此基础上,综合提出涵盖材料改进、环境控制、防护涂层应用等多元防护策略,旨在为提升电子元件抗硫腐蚀能力、保障电子产品质量与寿命提供理论支撑与实践指导。
出处 《中国电气工程学报》 2024年17期
出版日期 2025年01月24日(期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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