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斜向探测电离图描迹提取算法研究

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摘要电离层斜向探测工作在高频段,密集的外部干扰如短波通信,广播电台以及大气噪声等污染了接收数据,严重影响斜向探测电离图描迹的提取.针对上述问题,本文提出了一种提取斜向探测电离图描迹的算法.该算法由频域去干扰,有序统计量OS-CFAR检测,去虚警点三个步骤构成.对实测数据的处理结果表明这种方法的有效性和实用性.

DOI 54kwgyr24k/1321009

作者张成峰;王昶;刘子龙;朱启强

机构地区不详

出处《中国电子科学研究院学报》 2014年1期

关键词斜向探测电离图描迹提取有序统计量检测

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2014年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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中国电子科学研究院学报

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