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NOR型FLASH存储器测试技术

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摘要 NOR型FLASH存储器因其能够长久地保持数据的非易失性（Non-Volatile）特点,被广泛用作各类便携型数字设备的存储介质,但由于此类器件的编程及擦写均需写入特定指令,以启动内置编程/擦除算法,从而使得采用自动测试系统对其进行测试也具有较高难度。因此,研究NOR型FLASH存储器的测试技术,并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以AMD公司的AM29LV160DT为例,介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理,接着详细阐述了一种采用J750EX系统的DSIO模块动态生成测试矢量的方法,从而能够更为简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。

DOI kd2m5g6xj6/1608486

作者王征宇;赵桦

机构地区不详

出处《电子与封装》 2016年3期

关键词 NOR型FLASH DSIO

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2016年03月13日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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