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X荧光光谱压片法测定硅锰铁合金中的Mn、Si、P元素
X荧光光谱压片法测定硅锰铁合金中的Mn、Si、P元素
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摘要
从制样方法及分析方法上对硅锰铁合金的分析方法进行了研究,采用定时、定压、定量制样、标准曲线制作等手段,主要对硅锰铁合金中Mn、Si、P等常规元素进行测定。对于X荧光光谱压片做了充分的前期准备工作,并对相关影响因素进行分析。该方法分析数据准确可靠,进而取得满意的分析结果。
DOI
odw8y8xedk/1772708
作者
孙闯
机构地区
不详
出处
《南钢科技与管理》
2017年3期
关键词
X射线光谱法
硅锰铁合金
粉末压片
分类
[冶金工程][钢铁冶金]
出版日期
2017年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
南钢科技与管理
2017年3期
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