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基于KLEE的复杂路径中内存泄露检测研究

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摘要为了检测出复杂路径中的内存泄露问题,首先将Z3求解器移植到符号执行工具KLEE中,使其与KLEE中原有的STP求解器并行工作;然后利用并行了Z3求解器的KLEE对复杂路径的内存泄露程序进行测试用例生成;最后利用生成的测试用例对程序进行测试,挖掘出内存泄露问题。证明这种检测复杂路径中内存泄露的方法具有可行性、正确性、有效性。

DOI wjvr8x5w47/1827102

作者黄琦;彭武;蔡爱华;王冬海

机构地区不详

出处《中国电子科学研究院学报》 2018年1期

关键词复杂路径内存泄露 Z3求解器 KLEE

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2018年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）