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《企业技术开发》
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2009年9期
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芯片的腐蚀
芯片的腐蚀
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摘要
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DOI
6jrmxnyxd5/4081039
作者
任建刘斌付英
机构地区
任建,刘斌,付英(沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳110870)
出处
《企业技术开发》
2009年9期
关键词
集成电路
逆向设计
版图解剖
分类
[经济管理][企业管理]
出版日期
2009年09月19日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
企业技术开发
2009年9期
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