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X射线在芯片分析中的应用
X射线在芯片分析中的应用
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摘要
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DOI
0dp5y99k42/6472645
作者
龚子雄,符超,张佳佳,邓梦,刘杰
机构地区
珠海格力电器股份有限公司 广东 珠海 519000
出处
《中国科技信息》
2022年12期
关键词
X射线
芯片
失效分析
分类
[][]
出版日期
2022年09月28日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国科技信息
2022年12期
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X射线
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