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用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性

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摘要着重介绍了利用耦合谐振环法测量微带基片介电常数和损耗角正切的技术,并通过软件仿真及实物测量验证了该方法的正确性及测量精确度。在1～12GHz频率范围内,介电常数测量不确定度为±3%,损耗角正切测量不确定度为±30%。该方法的测量电路易于制备,对测量环境要求较低,可用于普通的实验室测试。

DOI 954k6vp3jk/66009

作者

机构地区不详

出处《中国科学院上海天文台年刊》 2010年1期

关键词耦合谐振环介电常数损耗角正切微带基片

分类 [天文地球][天文学]

出版日期 2010年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国科学院上海天文台年刊

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耦合谐振环介电常数损耗角正切微带基片

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