电子元器件的可靠性筛选研究

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摘要 摘要:近年来,随着社会建设的不断发展,电子元器件成为系统和组件的重要组成部分,提高电子元器件的可靠性是系统可靠运行的基础。在对产品发布之前需要对其可靠性的性能进行评估,因此需要对其进行可靠性试验。然而,在正常条件下对其进行试验所花费的成本是巨大的,特别是军用装备,可靠性要求更为严苛。因此需要研究一些试验方法来测试其可靠性指标。本文主要对常用的可靠性试验方法进行了介绍,包括高加速寿命试验、可靠性增长实验、加速寿命试验等可靠性试验方法,并对可靠性试验方法进行了总结和展望。
机构地区 513030197504194033
出处 《科技新时代》 2023年7期
出版日期 2023年11月11日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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