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数字IC测试仪测试向量与编码方法研究

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摘要针对数字IC电路逻辑功能、真值表不同,芯片参数数据库向量编码复杂的问题,设计并解决了数字实验中常用20脚以内的数字IC测试仪最为关键的测试向量及其编码问题。

DOI wjvkl8eqd7/947174

作者孙承庭;朱春江

机构地区不详

出处《连云港职业技术学院学报》 2010年4期

关键词逻辑功能真值表测试向量编码

分类 [文化科学][职业技术教育学]

出版日期 2010年04月14日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

连云港职业技术学院学报

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逻辑功能真值表测试向量编码

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