简介:JUnit是一个简单的编写可重复的测试框架。在单元测试框架中,它是xUnit架构的一个实例。JUnit框架已集成在Myeclipse环境中,只需进行简单的操作即可生成测试代码;同时,Myeclipse也集成了Ant编译工具,可生成测试报告。这种测试环境不但具有简化的测试过程,而且具有完善的测试结果,同时具有跨平台性。
简介:大国和平崛起,一夜间成为朝野关注的焦点话题。本期第一专题“东亚可以说‘行’”。从第一生产力背景入手。解析大国方略。注意力聚焦于众多“大国崛起”论“遗忘”的一个关键:第一生产力的制高点。才是大国崛起的实力要枢。《东亚可以说“行”》与“中国可以说‘不’”相反,第一次表现出以实力为背景的自信。认为,一个宏大的、自主的和互助的战略理想得以启动,意味着一个互助合作的东亚IT将迅速崛起,成为世界真正的第三极。科技“长缨在手”,东亚可以说“行”。专题摘要披露了1995年秘密发自美国费城的第一份科技万言书《关于中国计算机产业国家政策的建议》、1999年有关人士上书的第二份科技万言书《中国衰落的危险与新的战略选择——建立在美国核心信息技术上的中国图景》,并首次发表了第三份科技万言书《东亚可以说“行”》。反映了生产力前沿人士在大国不同发展阶段的所忧所思。自信的东亚不再说“不”,而说“行”,反而触痛了昔日霸主,诅咒“亚洲国家的这种努力将会以失败告终”。为什么?掩卷之后,值得深思。
简介:提出了一个基于商用65nm工艺在晶体管级设计抗辐射数字标准单元库的方法。因为当C单元的两个输入是不同的逻辑值时输出会进入高阻模式,并保持输出逻辑电平不变,而当输入端有相同的逻辑值时,C单元的功能就像一个反相器的特性。因此它有把因为辐射粒子引起的单粒子翻转(SEU)效应或单粒子传输(SET)效应所产生的毛刺滤除掉的能力。在这个标准单元库中包含了在晶体管级使用C单元设计了抗辐射的触发器,以便于芯片设计者可以使用这个库来设计具有更高抗辐射能力和减小面积、功耗和延迟的芯片。在最后为了能表征标准单元在硅片上的延迟特性,一个基于环形振荡器的芯片结构用来测量每个单元的延迟,以及验证抗辐射能力。延迟测量结果跟版图后仿真结果偏差在10%以内。