简介:摘 要:功率器件VDMOS电参数直接影响着器件工作性能,其电参数失效模式众多,其中源漏漏电IDSS最为常见,且其失效原因复杂,同时也最难解决。本文就其中一种渐变型IDSS失效进行分析总结,并优化在线工艺,提升良率。
简介:摘要:由于BGA (Ball Grid Array球栅阵列)技术应用领域的广泛化,其BGA返修技术已被各电装企业重视。本文按照BGA元器件返修工艺流程为顺序,介绍了BGA封装器件返修技术,侧重阐述了BGA元器件返修工艺过程控制,重点论述了回流焊接温度曲线设置、BGA植球等工艺技术控制手段及工艺要求。