简介：介绍了全面禁止核试验条约（CTBT）中涉及的放射性氙同位素及其来源、核爆炸产生放射性氙同位素特征和CTBT大气放射性氙监测技术，重点总结了CTBT中大气放射性氙的取样、测量、事件性质识别和源项解析等技术的最新进展。在氙监测设备方面，已有3套商业化的氙监测系统可供采购，且氙同位素取样效率和探测灵敏度已远超临时技术秘书处设定的技术指标要求；在放射性氙同位素活度测量与能谱分析方面，Si-PIN新型探测器研究取得较大进展，建立了放射性氙数据分析软件；在氙监测事件性质识别方面，建立了Kalinowski判据模型；在大气输运模拟研究与应用方面，基于FLEXPART模型开发了Web-Grape和Web-GrapeIBS软件。但从实际监测效果看，有效获取敏感核素对及核素比，并依此提供确凿核爆炸证据的能力尚显不足。下一步工作应聚焦在氙同位素探测灵敏度提升、氙监测事件识别及溯源等研究上。

简介：目的：研究一种使用连续的土壤模型模拟土壤-结构界面的新方法，并阐述这砦模型增强土壤-结构相互作用的建模方法。创新点：1．基于先前的亚塑性模型，通过将晶粒间应变的概念融入模型公式来模拟循环载荷。2．整体性较好的模型具有更好、更精确的模拟结果。方法：1．采用一种砂浆接触的力学方法，其中一个表面作为主面，另一个表面作为从属面。2．采用砂浆接触的力学方法并结合用户定义的子程序，对土壤-结构界面进行建模。3．基于先前的亚塑性模犁，将晶粒间应变的概念融入模型公式来模拟循环载荷。结论：1．整体性较好的模型具有更好、更精确的模拟结果。2．本文提出的土壤-结构界面建模方法不仅提高了模拟结果，且在某些模拟中提高了数值收敛性。

简介：目的：寻找以轴力为主要传递荷载方式的单层网壳结构的多种合理形态,改善结构的受力性能,为建筑设计提供多种合理的结构形状方案。创新点：1.建立控制单元组长度的移形方程,并在移形方程的基础上推导基于联动机构势能最小化的结构形态创构方法。2.将分组方式应用于网壳结构形态创构,并通过改变分组形式获得不同的合理结构形状;临时单元与临时力的引入拓展了方法的适用范围,也为形态创构提供了新的途径。方法：1.将机构的单元进行分组,以单元组总长度不变作为条件建立机构移形方程;根据机构势能下降最快的方向调整机构形状,使机构逐步达到势能最低。2.在同一初始模型中,通过改变临时单元、临时力以及单元组的设置来获得多种合理结构形状;通过多个数值算例说明该方法的特性。3.对该方法所生成的结构进行受力性能分析,验证所提方法的可行性和有效性。结论：提出了一种适用于网壳结构的形态创构方法。该方法简单、灵活,可以通过调整临时单元、临时力以及单元组的设置,得出多种以轴力为主要传递荷载方式的合理结构形状。可以为设计者在建筑方案设计阶段提供多种结构形状方案。

简介：通过Flash软件开发了适合网络运行的物理实验自测系统，系统开发了包括多达八种题型的试题库和系统，能满足物理实验测试的要求，学生可以通过访问大学物理实验网站进入该系统，并可以针对本学期的实验项目进行自我测验，系统可以自动评分，给出成绩报告。

简介：介绍了一中新设计的测量物体转动惯量的方法，利用KK轴承来作为转动轴，精密机械结构设计，实现了转动惯量的测量。

简介：重点介绍了电场磁场聚焦原理、双聚焦条件下的计算和调试仿真。磁电双聚焦质量分析系统结构为圆柱面结构的静电场,离子轨道半径为360mm,偏转角为65°;磁场离子轨道半径为250mm,偏转角为90°,入射角90°,出射角26.5°。分别对磁场、电场进行独立调试和磁电双聚焦系统联合调试及技术指标测试。测试表明,双聚焦质量分析系统的分辨能力达到了设计要求,实现了双聚焦条件。

简介：利用飞行仿真系统、数据采集系统和视景仿真系统开展了地面模拟飞行状态下无人机电子学系统抗高空电磁脉冲效应研究,获取了典型效应现象,分析了薄弱环节,为后续开展其他类型电子学系统的高空电磁脉冲效应研究奠定了技术基础。

简介：为深入研究系统电磁脉冲(SGEMP)特性,通过蒙特卡罗程序MCNP计算并总结了发射电子能谱、θ方向角分布以及光电产额等发射电子参数的变化规律,给出了不同X射线黑体温度下表征射线能量的能谱参数E1。利用3维全电磁PIC程序对SGEMP进行模拟,并将模拟结果与用X射线黑体温度T近似代替能谱参数E1取值方式下的模拟结果进行了对比。结果表明,低能射线的能谱参数与黑体温度近似相等;而高能射线的能谱参数与黑体温度存在偏差,会导致SGEMP模拟计算的电磁场峰值产生偏差。

简介：利用晶体管直流增益随中子辐照注量的变化关系,建立了基于电压补偿的晶体管直流增益在线测试系统,以模块化软件架构设计方法及电压回读技术,实现了不同辐照功率下晶体管直流增益的实时监测,获得了辐照期间晶体管器件敏感参数的变化规律。结果表明,在不同中子注量辐照下,研制的直流增益在线测试系统可满足晶体管损伤效应的实时测量要求,系统的测试精度达0.2%。