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核科学技术
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利用SAXS表征聚合氯化铝硅絮凝剂

简介：SAXS被用于研究聚合氯化铝硅（PASC）絮凝剂的形态，0．1MPASC絮凝剂的分形数随絮凝剂中硅铝比的增加而增大，当硅铝比由0．025增加到0．075时，分形数由1．29增大到1．41。
标签： SAXS 表征聚合氯化铝硅絮凝剂形态硅铝比

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铁电／超导集成薄膜的微结构性质研究

简介：
标签：铁电/超导集成薄膜微结构直流/射频磁控溅射 X射线衍射

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三氧化钨薄膜电致变色过程的EXAFS研究

简介：测定了真空蒸镀的WO3薄膜电致变色前后的谱，发现钨原子与周围的氧原子的作用距离随着阳离子（K^+,Li^+）注入电量的增加而增加，说明阳离子的注入对WO3的微结构有影响。
标签：三氧化钨薄膜电致变色 EXAFS 微结构

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小角X—射线散射（SAXS）研究利用超临界流体为介质制备的聚合物共混体系的相区尺寸

简介：以超临界CO2为溶胀剂所制备的PET／PS共混物的小角X－射线散射（SAXS）研究表明，PET／PS共混物的结构参数与共混物的组成及热历史密切相关。按Vonk的一维电子密度相关函数法，得到共混物的结构参数。过度层厚随PS组分含量增加而增加，结晶片层厚却随PS含量增加而降低。热处理可提高共混物的结晶性。内比表面积随PS含量增加而增加是PS使PET韧性和抗冲击性能提高的本质原因。
标签：超临界流体相区尺寸超临界CO2 PET PS 共混

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KTiOAsO4晶体的铁电畴与位错的多种实验方法研究

简介：利用原子力显微镜，同步辐射X射线形貌术和化学腐蚀光学显微等方法深入研究了KTiOAsO4晶体缺陷中的铁电畴和位错。首次用原子力显微镜给出了用两种腐蚀剂腐蚀过的KTA晶体表面的铁电畴和位错蚀坑的照片及定量信息，如发现铁电畴的明区要高于暗区，且两者的粗糙度明显不同。这为研究各种晶体的生长缺陷开辟了一条新的途径。
标签： KTiOAsO4晶体原子力显微镜同步辐射X射线形貌像铁电畴位错激光倍频材料

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人肝细胞胞质溶胶等电聚焦分离后金属蛋白的同步辐射X-荧光检测

简介：
标签：人肝细胞胞质溶胶等电聚焦分离金属蛋白同步辐射X-荧光检测

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