简介：摘要在混成式InSb焦平面器件制造过程中，热冲击引起的芯片碎裂是造成器件失效的主要原因，其较高的碎裂概率严重制约InSb焦平面器件成品率。针对InSb焦平面器件温度循环下碎裂的现象，设计出热冲击试验装置，采用该装置，对InSb焦平面器件进行热冲击试验，获得InSb焦平面器件碎裂位置、分布等丰富的试验数据；通过对碎裂机理进行分析，梳理并识别生产过程中引起碎裂的工艺因素，确定了热失配应力和工艺损伤是造成InSb焦平面器件碎裂的两个主要原因。通过对底部填充材料的择优选择、固化过程的优化，控制芯片切割中的进刀速度，选择适合InSb材料的磨料，减少热失配应力，避免生产过程中引入的工艺损伤，降低了InSb焦平面器件碎裂的概率，显著提高InSb焦平面器件的成品率。该研究工作分析了混成式InSb焦平面器件碎裂机理，找到了引起InSb焦平面器件碎裂的主要原因，并采取有效措施，降低了碎裂概率，使成品率提高50%，提升InSb焦平面器件的制造水平，将InSb焦平面器件应力分析结果应用于制造过程，指导探测器结构设计和工艺优化，对320*256、640*512中规模InSb焦平面器件研制具有重要意义。

简介：企业专利行为涉及到制度适用、文件撰写和经营管理等多个环节，因此，如何有效防范在这些环节当中可能面临的专利风险是企业技术管理和专利活动的主要内容。在文献综述的基础上，探讨了专利风险基本认识，并进而从技术研发、专利申请、专利运营和专利侵权等角度，探讨了企业专利风险的防范策Ⅲ各。

简介：摘要随着社会的发展与经济的进步，社会对电能的需求量也在不断的增加，与此同时，在我国推行的节能减排的方针政策的引导下，我国逐渐研发出一款新型的600MW超临界机组，其具有超高的抗氧化与抗腐蚀能力，对电力系统起到很好的保护作用。本文将对600MW超临界机组锅炉氧化皮生成机理进行分析，并提出可行性的防护措施，以供参考。

简介：摘要从理论上分析了仪控设备老化对核电站安全性的影响，并据此指出了仪控设备老化管理的关键要素。针对仪控系统涉及的各类传感器、电子元器件、继电器、电缆及连接器等部件的老化机理进行了深入剖析，从实施的角度论述了老化管理的过程和策略，并特别针对电子设备过时淘汰问题进行了讨论。

简介：摘要如今人们的生活水平有了显著提升，同时各界对电能的需求量也大幅度增加，如今高压电在人们的生活和工作中正发挥着非常重要的作用，在保障电网正常运行中绝缘子起到了很好的作用，然而其由于长期暴露在空气中难免会受到其他物质的污秽从而发生污秽闪络现象，这对于电网正常运行来说是极其不利的。本文通过查阅相关资料，简要介绍了有关于绝缘子污秽成分的分析，以及绝缘子清洗剂去污机理方面的研究，以期能够为绝缘子应用的发展提供有价值的参考。

简介：作为智能制造的重要驱动要素,知识管理经常被忽略。知识或存在于人工经验,或存在于机理规律,或存在于数据模型。三者具有非常互补的关系。人工经验是在社会实践中产生的,是客观事物在人们头脑中的反映,是认识的开端。但经验有待于深化,有待上升到理论。而且,经验的传递非常复杂,企业的丰富的经验很容易丢失在员工变迁之中。