简介:为了保证从PLIF(planarlaserinducedfluorescence)测量的荧光图像中提取温度和浓度信息的真实性和可靠性,开展了荧光图像降噪方法及评价研究.分析荧光图像中包含的各种噪声来源,比较了荧光信号与噪声特征的差异性;分析了几种常用滤波方法的特点,比较了不同滤波方法对荧光图像中含有米散射噪声的去除效果;分析了图像降噪处理效果的评价方法,选用了差值图像比较的方法,通过检查荧光图像与处理图像的差值图像中含有荧光图像结构信息的程度,检验降噪方法对荧光图像信息的损伤情况.结果表明,形态学图像重构对荧光图像中米散射噪声去除较好,而且对图像中原有荧光信息的数值和分布有较好的保护.
简介:采用多陷阱的理论方法,模拟了不同剂量率辐照下MOS电容的总剂量效应,分析了氧化层空间电荷场效应与辐照剂量率的关系.研究了氧化层中浅能级陷阱、深能级陷阱对界面俘获电荷和半带电压的影响.研究结果表明,相对于高剂量率辐照,低剂量率在Si/SiO2界面附近俘获更多的空穴,导致产生更大的半带电压漂移;空间电荷场效应是由高、低剂量率辐射损伤差异造成的;浅能级陷阱俘获的空穴主要支配着氧化层电荷的传输特征,被深能级陷阱俘获的空穴是永久性的,是引起器件半带电压漂移的主要原因.