简介:高精度坐标测量机单轴测量不确定度U95一般约为0.6μm,加上导轨直线度误差,则坐标测量机对平行度、平面度测量的扩展不确定度U95约在1μm。等厚干涉仪可解决高精度的平面度测量问题(如平晶的检定),但平行度却缺乏更高精度的测量方法,并且当测量须针对零件端面上的特定点位时,等厚干涉仪也无能为力。而在高精度圆度仪上,不需改动任何硬件和软件可以解决上述问题。圆度仪对圆端面平面度和平行度的测量是可通过工作台主轴旋转的圆周运动和横臂带动测头的径向运动来实现,测量数据点位呈几个同心圆分布。由于为了实现圆度仪上的多圈采点测量,必须在工件端面径向移动测头,这就将圆度仪横臂导轨的直线度和相对于主轴的不垂直度带入了平面度和平行度的测量中,使得这两项误差直接影响到最终的测量结果,因此必须加以修正。
简介:采用粉末压片制样,利用X射线荧光光谱分析仪,对石灰石、白云石等灰岩类标准物质拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱(XRF)法同时测定灰岩类样品中主次量组分(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、MnO、P)的快速分析方法。通过灼烧减量对SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO5种主量成分含量进行换算后建立校准曲线,大大地改善了分析的准确度和精密度。通过实验优化了制样条件,对灰岩类试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)<2%;对石灰石、白云石标准样品和实际样品进行准确度考察,测定值与标准推荐值或传统方法的测定值一致。
简介:设D=(y(D),A(D))是一个强连通有向图.弧集SA(D)称为D的k-限制性弧割,如果D-S中至少有两个强连通分支的阶数大于等于后.最小k-限制性弧割的基数称为k-限制性弧连通度,记作Ak(D).k-限制性点连通度Kk(D)可以类似地定义.有k-限制性弧割(k-限制性点割)的有向图称为λk-连通(kk-连通)有向图.本文研究有向图D的限制性弧连通度和其线图L(D)的限制性点连通度的关系,证明了对任意λk-连通有向图D,kk(L(D))≤λk(D),当k=2,3时等式成立;若L(D)是Kk(k-1)连通的,则λk(D)≤Kk(k-1)(L(D));特别地,若D是一个定向图且L(D)是Kk(k-1)/2.连通的,贝0Ak(D)≤Kk(k-1),2(L(D)).