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全球渡“危”,
中国
寻“机”——从危机中窥见
中国
测试测量行业
作者：
钟立
学科：
一般工业技术
>
工业设计
创建时间：2009-07-17
出处：
《工业设计》
2009年第7期
简介：
借2009
中国
国际嵌入式大会在沪举行之际,笔者专访问了几位与会专家,并与其共同探讨了全球金融风暴后测试测量行业在
中国
发展的前景。
标签：
中窥见
中国寻
中国测试
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全球渡“危”,
中国
寻“机”——从危机中窥见
中国
测试测量行业
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中国
测试测量行业
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