简介:目的探讨上颌磨牙近中颊根第二根管(MB2)的临床检出率以及手术显微镜在提高上颌磨牙临床检出率中的作用。方法选取进行常规根管治疗的63颗上颌第一磨牙,27颗上颌第二磨牙,以及进行显微根管治疗的55颗上颌第一磨牙,20颗上颌第二磨牙,2颗上颌第三磨牙,分别拍摄术前X线片,探查根管,记录根管数目。结果进行常规根管治疗的上颌第一磨牙和上颌第二磨牙,MB2检出率分别为28.6%和3.7%;进行显微根管治疗的上颌第一磨牙和上颌第二磨牙,MB2检出率分别是61.8%和25%;对上颌第一磨牙常规根管治疗和显微根管治疗的MB2临床检出率进行卡方检验,χ2=13.17,差异有统计学意义(P〈0.001);对上颌第二磨牙常规根管治疗和显微根管治疗的MB2临床检出率进行Fisher确切概率值检测,单侧比较值为0.043,差异有统计学意义(P〈0.05)。结论手术显微镜有助于提高上颌磨牙MB2的临床检出率,选择显微根管治疗有助于提升上颌磨牙根管治疗的成功率。
简介:摘要高中阶段,解一元高次不等式的常用方法就是根轴法。很多版本的教学参考书中都介绍了这种方法。然而,这些教参介绍的只是一个做题的程序,至于为什么要那样做,书中并未解释。本文首先介绍了根轴法解一元高次不等式的基本步骤,然后探讨根轴法的理论依据,指出了根轴法的不足,最后介绍了一种优于根轴法的解一元高次不等式的通用方法。