简介:从碳化硅(SiC)功率半导体器件的等效电路入手,分别讨论了碳化硅肖特基二极管(SiCSBD)与碳化硅结型场效应功率晶体管(SiCJFET)的稳态与暂态特性。分析并解决了碳化硅器件开通电压与驱动电压不匹配的问题,设计了一种SiCJEFT功率开关器件的驱动电路。实验结果表明,SiC新器件具有良好的开关特性,驱动电路可以有效驱动SiCJFET器件。
简介:摘要:本研究旨在探究碳化硅晶体的缺陷与电学特性之间的关系。通过系统性的实验分析,发现不同类型的晶体缺陷与电学性能之间存在密切关联,为深入理解碳化硅材料的性能提供了重要线索。本文结合电学测试和缺陷表征,揭示了晶体缺陷对电子迁移率、载流子浓度等电学特性的影响机制。结果不仅拓展了对碳化硅材料的认知,也为材料的进一步优化与应用提供了有力支持。