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  • 简介:利用同步X光透射形貌技术,研究了液封直拉(LEC)、水平布里支曼(HB)、垂直梯度凝固(VGF)三种生长技术制备的Φ2"晶片的位错缺陷。发现LEC晶体中缺陷明显高于HB、VGF晶体,VGF缺陷缺陷最低,HB晶体居于两者之间。结合生长界面温度梯度和杂质掺入水平,讨论了位错分布差异的原因。

  • 标签: 位错 X光形貌 GAAS晶体 半导体 生长工艺 液封直拉
  • 简介:流体包裹体保留了古地质时期流体的原始组成,为矿物形成提供有价值的物理化学信息,对单个流体包裹体的无损成分分析,成为国际地学领域的重大前沿课题。同步辐射X射线荧光(SRXRF)微探针以其在微量和微区分析上的优势为这方面的研究提供有力的工具。我们在北京同步辐射装置(BSRF)的3WIA新束线上,用这种微探针开展了单个流体包裹体无损分析的实验研究。用特制的狭缝系统,从能量为3.5-35kev的同步辐射X射线中得刮10×10μm^2的微束,通过显微对光调整使它入射到选定的大小适当的单个流体包裹体样品上,其所产生的荧光用来确定流体中所含元素的丰度。用NIST612标样,测定了目前实验条件下元素的最小检测限(观测时间为1000秒),检验了这种方法的可行性。在此基础上,对一组典型有机包裹体样品分别单个作无损成分分析,给出了K、Ti、V、Cr、Kh、Fe、Ni、Cu、Zn、Rb、Sr、Y、Zr和Pb等14种元素的半定量测试结果,并说明这些结果可用来研究包裹体所在储层的沉积环境以及包裹体形成时捕获的油气的母源问题。

  • 标签: 单个流体包裹体 同步辐射X射线荧光微束 无损分析 矿物
  • 简介:利用同步辐射硬X射线高能量,穿透能力强和高分辨率的特性,根据X射线形貌成像原理分别对工程结构陶瓷烧结后,材料内部微结构和微缺陷尺寸大小、分布和界面形貌进行无损观测。直观地获取微结构图像,为宏观分析结构陶瓷韧性和强度等力学性能,为建立扩散和本构模型提供有效的实验数据和图像。

  • 标签: 同步辐射硬X射线 陶瓷 烧结 内部微结构 形貌
  • 简介:介绍了利用北京同步辐射实验室的全反射X射线荧光谱仪测量生物细胞样品的可行性。并用此谱仪测量了正常的和辐照的小白鼠小肠细胞的痕量元素含量,发现K、Ca、Fe等元素含量有明显的提高,Cu元素含量明显降低,Mn元素含量变化不大,Zn元素含量基本稳定,并讨论了其在临床医学上的重要价值。

  • 标签: 全反射X射线荧光分析 应用 猪肝标样BGW08551 小肠细胞 痕量元素 生物医学
  • 简介:X射线监测系统的建立,结构特点和性能,有效地解决了气体的吸收和窗膜的透过率等因素的影响。申请获得了美国布鲁克海文国家实验室(BNL)的用光时间,对监测系统的性能进行研究,并给出了该系统的精度及与国际标准的比对结果。

  • 标签: 软X射线 软X射线监测系统 国际标准 电离室 光强度 测量
  • 简介:本文采用多功能四圆X射线衍射仪测绘出立方相GaN/GaAs(001)外延层的极图和倒易空间mapping,研究了六角相GaN和立方相微孪晶的取向、晶粒形状和极性等特征。结果表明外延层中片状六角相与立方相之间的取向关系为:(111)//(0001)、<112>//<1010>。由于(111)Ga面的外延速度远高于{111}N面,导致较多六角相和立方相微孪晶在[110]或[110]方向上的(111)Ga面和(111)Ga面上形成,而在[110]或[110]方向上六角相和立方相微孪晶含量较低。外延层中立方相微孪晶的含量明显低于六角相,表明六角相的形成可以更有效的释放局部应力集中。

  • 标签: 立方相 GAN 外延层 X射线四圆衍射分析 氮化镓 外延生长
  • 简介:依照相关产品标准、计量检定规程的要求,结合实际应用,研制了一种X射线探伤机检测装置,该装置可实现X射线探伤机多个主要参数的检测,使用方便,大大提高检测效率,同时由于探伤机主要参数的检测,均与距离密切相关,该检测装置采用了精确的定位装置和精密滑轨,极大提高了检测结果的准确度,保证了测量结果的可靠性。该检测装置的使用,有助于探伤机技术性能的检测和应用分析。

  • 标签: X射线探伤机 准确定位 多功能 检测装置 检测
  • 简介:Anewtime-resolvedshifteddualtransmissiongratingspectrometer(SDTGS)isdesignedandfabricatedinthiswork.ThisSDTGSusesanewshifteddualtransmissiongrating(SDTG)asitsdispersivecomponent,whichhastwosubtransmissiongratingswithdifferentlinedensities,of2000lines/mmand5000lines/mm.TheaxesofthetwosubtransmissiongratingsinSDTGarehorizontallyandverticallyshiftedacertaindistancetomeasureabroadrangeof0.1–5keVtime-resolvedX-rayspectra.TheSDTGhasbeencalibratedwithasoftX-raybeamofthesynchrotronradiationfacilityanditsdiffractionefficiencyisalsomeasured.ThedesignedSDTGScantakefulluseofthespaceonarecordpanelandimprovetheprecisionformeasuringspatialandtemporalspectrumsimultaneously.ItwillbeapromisingapplicationforaccuratediagnosisofthesoftX-rayspectrumininertialconfinementfusion.

  • 标签: 透射光栅光谱仪 时间分辨 光谱诊断 X射线谱 设计 位移
  • 简介:低温下用MBE方法生长了Ge/Si超晶格。X射线近边吸收限精细结构研究表明,Ge与Si再Ge/Si界面处存在化学混合。X射线反射及横向散射研究表明,Ge亚层上下表面的粗糙度呈反对称,下表面大的粗糙度来源于Ge向Si亚层中扩散形成SiGe混合组分结构:这种组分结构可以用一平均成份的SiGe合金层加以拟合,从而使得各亚层均有一个合理的粗糙度。旋转样品进行的X射线散射研究表明,这种SiGe的混合是各向同性的,这与透射电子显微镜的研究结构相一致。

  • 标签: Ge/Si超晶格 界面结构 X射线 粗糙度 纳米结构 光电特性
  • 简介:利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构。实验结果表明,由于Ge原子的偏析,在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层,浓度平均值为X=0.13;650℃退火会使Ge原子向表面扩散,Si晶体中的合金层消失,在晶体表面形成接近纯Ge的单原子层。

  • 标签: 同步辐射 X射线驻波实验技术 半导体超薄异质外延层 硅晶体 外延生长 超薄锗厚子层
  • 简介:论文介绍在北京同步辐射装置(BSRF)的实验条件下,用同步辐射X-射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光、进行探测等。在20μm×10μm和10μm×10μm束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,结果表明,矿物包裹体与主矿物中所含的微量元素的种类比较一致,只是在含量上有明显区别,它可以指示某种金属矿床和某种伴生矿的存在;而储集层中不同油井和层位的有机包裹体中所含微量元素的特征,可用于研究油气的成因和演化。

  • 标签: 同步辐射 X-射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 石油 天然气