TB87798063673介质厚度和面形对全息图再现象的影响=Influenceofmediumthicknessandprofileonholograms[刊,中]/康明武,杨坤涛(武汉华中理工大学光电子工程部.湖北,武汉(430074))//电光与控制.—1997,(4).—19—22论述了全息元件介质的厚度和面形(厚度变化)
中国光学
1998年6期
