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327 个结果
  • 简介:冲击韧性Cv值是核级设备材料的一项很重要的指标,也是核电材料常规材料的重要差别之一。本文汇集了各安全等级的设备材料的C值要求,可供核电设备设计、评审时应用。

  • 标签: 冲击韧性 核级设备材料
  • 简介:该出版物中提出的要求用以确保核电厂调试运行的安全,这些要求是基于过往经验技术现状提出和建立的,并遵循《核能安全基本原则》中提出的安全目标原则。该出版物涉及从核电厂调试、运行到核燃料清除这一过程,其中包括核电厂的维护和改造。同时该出版物不适用于退役过程本身,但涉及核电厂退役前的准备阶段,并对退役过程提出了额外的要求。与此同时,本刊物将常规运行、预期运行事件以及事故情况考虑在内。

  • 标签: 核电厂安全 核电厂调试 核电厂退役 常规运行 事故情况 技术现状
  • 简介:利用角分辨紫外光电子谱对乙烯和乙炔气体在Ru(1010)表面的吸附及K的共吸附的研究结果表明:当衬底温度超过200K,乙烯即发生脱氢反应,σCH和σCC能级均向高结合能方向移动。在室温下,σCH和σCC能级位置乙炔在Ru(1010)表面的吸附时的分子能级完全一致。乙烯发生脱氢反应后的主要产物为乙炔。衬底温度从120K到室温,Ru(1010)表面上乙炔的σCH和σCC能级均未发现变化。室温下乙炔仍然可以在Ru(1010)表面以分子状态稳定吸附。在有K的Ru(1010)表面上,室温时σCC谱峰几乎。碱金属K的存在促进了乙炔的分解。

  • 标签: C2H2 C2H4 K Ru(1010) 共吸附 UPS
  • 简介:为了降低成本并增强竞争力,核电厂采用更加具有挑战性的运行条件、更长的核燃料循环周期以及通过调整燃料设计和制备材料而获取的更高的燃耗。质量保证和控制,以及燃料性能分析已经成为大量专业期刊的讨论主题。该出版物对燃料制备、设计和运营问相互影响的质量可靠性问题做出了简洁但全面的概述。该出版物解释了技术、安全和组织结构方面的问题,并例举了当前发展情况以及燃料设计者、供应商和反应堆运营商间相互协调配合的良好实践。

  • 标签: 可靠性问题 燃料工程 质量保证 核反应堆 IAEA NO
  • 简介:利用扩展X射线吸收精细结构技术对用化学共沉淀法制备的非晶和纳米ZrO2·15%Y2O3体系进行了研究。分析结果显示,在从非晶态向纳米结构晶化的过程中,最近邻的Zr-0配位层的配位数和键长没有发生明显的改变,说明300℃温度处理的样品已经形成的900℃温度处理相同的最近邻局域结构。而对于Zr-Zr(Y)配位层,随着晶粒尺寸的减小,配位数明显降低,键长显著缩短,具有比Zr-O配位层更大的无序。这些结果表明晶粒尺寸的变化对于较远配位层的影响要比对最近邻的影响大得多。

  • 标签: ZrO2 Y2O3 EXAFS 晶化 配位数 键长
  • 简介:利用XRD、TPR和EXAFS等手段考察了焙烧温度对Cu/MnO2/ZrO2催化剂性能影响,结果表明,随着焙烧温度增加,铜的配位环境发生变化,铜和锰之间相互作用增强,有效地防止铜组分在还原及反应过程中聚集长大,从而使催化剂活性显著增加,当催化剂经过高温焙烧,催化剂活性由于ZrO2结晶和铜的聚集而降低。

  • 标签: Cu/MnO2/ZrO2催化剂 焙烧温度 活性测试
  • 简介:采用水热合成法制备了Ni/CeO2-ZrO2-A12O3催化剂。进行了添加和不添加水蒸气的CH4-CO2催化重整反应,测量了积碳量,并用EXAFS手段测试了催化剂Ni的K吸收边。结果表明,反应前后最近邻Ni—Ni配位距离无明显变化,而配位数却变化明显。无水蒸气反应后Ni-Ni配位数有较大幅度的减少,而添加了水蒸汽,Ni—Ni配位数比反应前减少幅度小。水蒸气的添加能减少积碳量,稳定催化剂中Ni的结构,从而提高催化反应的稳定性。

  • 标签: 水蒸气 CH4 CO2 Ni/CeO2-ZrO2-A12O3催化剂 水热合成法 EXAFS
  • 简介:该册包含预应力或增强的混凝土安全壳结构的材料、设计、建造、制造、试验、检验、超压保护要求。这些要求只适用于那些旨在提供压力保持或包含屏障的部件。这些要求不适用于其他支承结构,直接影响到系统部件的支承结构除外。针对第2册的建造,该卷包含强制性和非强制性的附录。该2013年版的主要变化包括:——对检验技术和强制性附录Ⅵ(无损检验技术)要求的修改。——对强制性附录Ⅷ(电弧焊接钢筋合格评定)的修改。

  • 标签: 混凝土安全壳 系统部件 压力容器规范 建造规则 核设施 非强制性
  • 简介:ThisworkinvestigatedC2F6/O2/ArplasmachemistryanditseffectontheetchingcharacteristicsofSiCOHlow-kdielectricsin60MHz/2MHzdual-frequencycapacitivelycoupleddischarge.FortheC2F6/Arplasma,theincreaseinthelow-frequency(LF)powerledtoanincreasedionimpact,promptingthedissociationofC2F6withhigherreactionenergy.Asaresult,fluorocarbonradicalswithahighF/Cratiodecreased.Theincreaseinthedischargepressureledtoadecreaseintheelectrontemperature,resultinginthedecreaseofC2F6dissociation.FortheC2F6/O2/Arplasma,theincreaseintheLFpowerpromptedthereactionbetweenO2andC2F6,resultingintheeliminationofCF3andCF2radicals,andtheproductionofanF-richplasmaenvironment.TheF-richplasmaimprovedtheetchingcharacteristicsofSiCOHlow-kfilms,leadingtoahighetchingrateandasmoothetchedsurface.

  • 标签: 等离子体化学 放电特性 蚀刻 薄膜 双频率 功率LED
  • 简介:Edgeplasmacharacteristicswerestudiedbyafast-scanning4-probearrayandaMach/Reynoldsstress/Langmuir10-probemovablearrayintheboundaryregion.Theseprobescouldmeasuretheedgeplasmatemperature,density,poloidalelectricfield,radialelectricfield,Reynoldsstress,poloidalrotationvelocitiesandtheirprofiles,whichcouldbeobtainedbychangingtheradialpositionsoftheprobearrayshotbyshot.Themeasuredresultswereusedtoanalyseplasmaconfinement,turbulentfluctuationsandcorrelations.Thefixedflush3-probearraysweremountedonthe4-divertorneutralizationplatesatthesametoroidalcross-sectioninthedivertorchamber.Theseprobeswereusedtomeasuretheprofilesoftheelectrontemperature,densityandfloatpotentialinthedivertorchamber.Edgeplasmabehavioursinbothlimiterconfigurationanddivertorconfigurationarecompared.Thedecaylengthsoftheedgetemperatureanddensityweremeasuredandisemphasizedforplasmabehavioursofthesupersonicmolecularbeaminjectionandlowerhybridcurrentdrive.ThedependenceoftheradialgradientofReynoldsstressonthepoloidalflowandtheradialgradientoftheelectricfieldonturbulentlossarediscussed.

  • 标签: 边缘等离子体 偏滤器 粒子约束 快速扫描探头 超声分子束注入 HL-2A
  • 简介:1引言低能自由空气电离室(RPS—2)是本实验室在70年代末为解决K荧光X参考辐射照射量率的测量问题而自行研制的,见图1。用于仪表刻度的K荧光X参考辐射源给出的低能X辐射可低达6keV或更低,ISO4073推荐的能量下限为8.6keV,而本实验室的参考仪器NPL2560次级标准照射量仪主要是用于过滤X参考辐射照射量的测量,在16.5keV以下的能区就无法给出量值。低能自由空气电离室的研制,解决了这一问题,它是从伦琴的基本定义出发,主要参考了美国NBSRitz的类似工作而设计的,设计使用的能量范围小于

  • 标签: 电离室 自由空气 参考辐射 照射量仪 照射量率 实验室