简介:Lagrange方法中,当流场发生大变形时,跟踪流体运动的Lagrange网格发生扭曲,使计算无法进行下去,此时必须重分网格,把网格修复成较好的形状。另外,网格自适应技术中的重构、合并与加密,以及同一问题不同程序相继计算的连接,并行计算中相邻块边界区域的数据传递等,这些情况都需要利用旧网格上的物理量来确定新网格上的物理量,是一个物理量重映过程。质点重映方法是基于物理上守恒规律的一种离散的物理量守恒映射方法,既可实现分片常数分布的一阶精度重映计算,又可实现分片线性分布的二阶精度重映计算。这种方法可严格保证守恒量的守恒性,且可以实现任意多边形网格以及节点上物理量的守恒重映。但是,基于分片线性分布的二阶精度重映方法,如果新网格的守恒量没有进行保界调整,那么相应的强度量有可能在其局部的限制范围之外,破坏了原网格物理量的单调性。因而,对二阶精度的质点重映方法进行了进一步研究。在分片线性分布的基础上,将基于结构网格的保界算法扩展到非结构网格上,给出了二阶保界的质点守恒重映方法。
简介:用费波那契数列(FibonacciSequence)计算规则联接的电阻、电容网络的等效值,方法特别且较常规的电阻(电容)串并联解法方便、快捷。
简介:在相同的反应体系中当ph值从约9.5调变至11时分别合成出双中孔SiO2和六方中孔SiO2材料,并用XRD、N2吸附、TEM、TG/DTA和FTIR等测试手段对合成产物进行了表征。实验结果表明,双中孔SiO和六方中孔SiO2是合成中必然出现的两种不同的中孔物相。与六方中孔SiO2相比,双中孔SiO2也具有典型中孔材料的特征XRD谱图,虽然仅呈现一个易让人产生不完全晶化误解的相对较宽的单XRD衍射峰(d=5.2nm),但它却给出一种独特的N2吸附等温线和窄的双峰中孔孔径分布曲线。由于孔壁的无定形及表面活性剂分子与SiO2骨架间相似的相互作用,两类材料给出类似的FTIR谱图和TG/DTA曲线。然而,在双中孔SiO2的FTIR谱图中960cm处峰强度的微小变化可能意味着在锻烧脱除模板剂后双中孔SiO2较六方中孔SiO2具有更高的骨架聚合度。更多还原
简介:采用闪烁体加光电管,建立了一套X射线功率谱测量系统,在“强光”1号丝阵Z-pinch实验中,获取了喷气和丝阵负载的X光辐射功率波形。实验表明将X光探测器设置在与主测量管道成90°的分测量管道中,并选用ST-401闪烁体或红光闪烁体为X光/荧光转换材料,能使可见光透过闪烁体而不在闪烁体中有沉积能量。实验中X光探测器的电磁屏蔽也得到了解决。